デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J

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説明

メーカー ケツト科学研究所
測定項目 デュアルタイプ膜厚計
特長 測定範囲:0~1500μmまたは0~60.00mils
説明 ペンキ等の被膜の厚みを測定する膜厚計です。1台で磁性、非磁性金属の被膜測定に対応できます。