デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

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磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。

 

■メーカー: ケツト化学研究所

 

特長

■ 小型・軽量のコンパクトボディ。 片手に入る大きさで測定現場でも手軽に使用できます。
■ 多機能を搭載。 通常の膜厚管理で必要とする機能を網羅し装備しています。

 

主な仕様

■ 測定方式     電磁誘導式/過電流式兼用
■ 測定対象     磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
■ 測定範囲     電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、過電流式:0~1200μmまたは47.0mils
■ 測定精度     50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3%
■ 分解能      100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm
■ 適合規格     JIS 5600準拠
■ データメモリ数   約39,000点
■ 検量線メモリ    アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶
■ 付加機能
① アプリケーション選択
② 素地補正
③ データ削除
④ データメモリ
⑤ 上下限設定
⑥ 統計計算 (測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値)
⑦ 表示選択
⑧ 日付・時刻
⑨ 自動OFF時間
⑩ バックライト明るさ
⑪ バックライト時間
⑫ 単位
⑬ データ出力
⑭ 自動ロット区分
⑮ 測定方法
⑯ メンテナンスモード
■ プローブ    一点接触定圧式(LEP-J,LHP-J)
■ 表示方法    デジタル(バックライト付LCD 128×64Dots、表示最小桁0.1μm
■ 電源      電池1.5V(単3アルカリ)×4
■ 消費電力    80mW(バックライト非点灯時)
■ 電池寿命    100時間(バックライト非点灯時、連続使用)
■ 動作環境温度  0~40℃
■ 寸法・質量    75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34㎏